簡要描述(shu):直流偏(pian)流源測(ce)試系(xi)統 6220、 6210、6240 擁有(you)內部溫(wen)(wen)(wen)升(sheng)(sheng)掃(sao)描(miao)功(gong)能(neng),透過(guo)掃(sao)描(miao)功(gong)能(neng)得到線圈(quan)內溫(wen)(wen)(wen)度升(sheng)(sheng)高(gao)的參數(shu),不再受限于空間過(guo)小導致(zhi)量(liang)測(ce)數(shu)值非常困難。溫(wen)(wen)(wen)升(sheng)(sheng)掃(sao)描(miao)功(gong)能(neng)可以讓(rang)工程(cheng)師了(le)解(jie)線圈(quan)上加(jia)了(le)電流以后,溫(wen)(wen)(wen)度爬(pa)升(sheng)(sheng)的狀況,就能(neng)立即知道組件是否會因溫(wen)(wen)(wen)度過(guo)高(gao)而燒毀。DC Bias 6210/6220 搭配 LCR Meter 6375-6379 系(xi)列 多可迭加(jia)6臺
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品牌 | 臺灣益和 | 應用領域 | 電子 |
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直流偏流源測試系統 6220、 6210、6240 擁有內部溫升掃描功能,透過掃描功能得到線圈內溫度升高的參數,不再受限于空間過小導致量測數值非常困難。溫升掃描功能可以讓工程師了解線圈上加了電流以后,溫度爬升的狀況,就能立即知道組件是否會因溫度過高而燒毀。DC Bias 6210/6220 搭配 LCR Meter 6375-6379 系列 多可迭加6臺。
直流偏流源測試系統 6220、 6210、6240 擁(yong)有內部溫(wen)升(sheng)掃描功(gong)能,透過掃描功(gong)能得到線圈(quan)內溫(wen)度(du)升(sheng)高(gao)的參數,不(bu)再(zai)受限于空間過小導致(zhi)量測(ce)數值非常困(kun)難(nan)。溫(wen)升(sheng)掃描功(gong)能可以讓工程師了(le)解線圈(quan)上加了(le)電(dian)流以后,溫(wen)度(du)爬升(sheng)的狀況,就(jiu)能立(li)即知道組件(jian)是否(fou)會因溫(wen)度(du)過高(gao)而燒毀(hui)。DC Bias 6210/6220 搭(da)配 LCR Meter 6375-6379 系列 多可迭加6臺。
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